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株式会社堀場製作所

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　■　2020年出願公開件数ランキング　　　第705位　38件（2019年：第595位　50件）

　■　2020年特許取得件数ランキング　　　第565位　40件（2019年：第554位　41件）

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株式会社堀場製作所の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2020-204604	粒子分析装置及び粒子分析方法	2020年12月24日
特開 2020-202824	細胞計測方法及び細胞計測装置	2020年12月24日
再表 2019-116802	粒子分析装置	2020年12月24日
特開 2020-201202	エクソソームの表面分子および内包分子を検出する方法	2020年12月17日
特開 2020-201097	排ガス分析装置、排ガス分析方法、排ガス分析用プログラム及び機械学習装置	2020年12月17日
再表 2019-117276	放射線検出器及び放射線検出装置	2020年12月17日
再表 2019-117272	シリコンドリフト型放射線検出素子、シリコンドリフト型放射線検出器及び放射線検出装置	2020年12月17日
再表 2019-131875	粒子形状分析方法、顕微鏡および顕微鏡システム	2020年12月10日
特開 2020-190508	粒子径分布測定装置、粒子径分布測定方法、及び、粒子径分布測定装置用プログラム	2020年11月26日
特開 2020-190462	台車、自動運転システム及び収納方法	2020年11月26日
特開 2020-187004	自動運転装置	2020年11月19日
再表 2019-44845	エクソソーム表面分子を特定する方法	2020年10月29日
再表 2019-117301	表面特性検査装置及び表面特性検査プログラム	2020年10月22日
再表 2019-116657	半導体レーザ	2020年10月22日
再表 2019-116660	半導体レーザ装置、半導体レーザ装置の駆動方法及び駆動プログラム	2020年10月22日

39 件中 1-15 件を表示

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2020-204604 2020-202824 2019-116802 2020-201202 2020-201097 2019-117276 2019-117272 2019-131875 2020-190508 2020-190462 2020-187004 2019-44845 2019-117301 2019-116657 2019-116660

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