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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第545位 70件
(2012年:第528位 66件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第591位 57件
(2012年:第557位 60件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-257159 | 放射線又は放射能を測定するための測定装置及び測定方法 | 2013年12月26日 | |
特開 2013-257270 | 水素炎イオン化型排ガス分析計 | 2013年12月26日 | |
特開 2013-253849 | 光学装置 | 2013年12月19日 | |
特開 2013-250061 | 元素分析装置 | 2013年12月12日 | |
特開 2013-245999 | 化学センサ用ステージ及び化学測定装置 | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245964 | 試験システム | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245967 | 試験システム | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245965 | 試験システム | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245966 | 排ガス分析システム | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245968 | 排ガス分析装置 | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245976 | 試験システム | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245969 | 車両性能試験システム | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245974 | 試験システム | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245975 | 試験システム | 2013年12月 9日 | |
特開 2013-245977 | 試験システム | 2013年12月 9日 |
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2013-257159 2013-257270 2013-253849 2013-250061 2013-245999 2013-245964 2013-245967 2013-245965 2013-245966 2013-245968 2013-245976 2013-245969 2013-245974 2013-245975 2013-245977
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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