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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第152位 300件
(2013年:第158位 313件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第168位 260件
(2013年:第176位 235件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2014-102294 | カメラモジュール及びチタン銅箔 | 2014年 6月 5日 | |
特開 2014-98190 | インジウムスパッタリングターゲット及びその製造方法 | 2014年 5月29日 | |
特開 2014-98174 | 表面処理銅箔、それを用いた積層体、プリント配線板、電子部品及び表面処理銅箔の製造方法 | 2014年 5月29日 | |
特開 2014-98862 | カメラモジュール及びチタン銅箔 | 2014年 5月29日 | |
再表 2012-81340 | 磁気記録膜用スパッタリングターゲット及びその製造方法 | 2014年 5月22日 | |
特開 2014-95153 | スパッタリング用ランタンターゲット | 2014年 5月22日 | |
再表 2012-86388 | 焼結体スパッタリングターゲット | 2014年 5月22日 | |
再表 2012-86300 | 磁気記録膜用スパッタリングターゲット及びその製造方法 | 2014年 5月22日 | |
再表 2012-86575 | 強磁性材スパッタリングターゲット | 2014年 5月22日 | |
再表 2012-86335 | C粒子が分散したFe−Pt系スパッタリングターゲット | 2014年 5月22日 | |
再表 2012-81669 | 強磁性材スパッタリングターゲット | 2014年 5月22日 | |
再表 2012-81668 | 強磁性材スパッタリングターゲット | 2014年 5月22日 | |
特開 2014-95727 | 試料分析装置及び試料分析方法 | 2014年 5月22日 | |
特開 2014-95680 | 透明基材の視認性評価装置、透明基材の視認性評価プログラム及びそれが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びに、積層体の位置決め装置、積層体の位置決めプログラム及びそれが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体、及び、プリント配線板の製造方法 | 2014年 5月22日 | |
特開 2014-95679 | 銅箔の表面状態の評価装置、銅箔の表面状態の評価プログラム及びそれが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びに、銅箔の表面状態の評価方法 | 2014年 5月22日 |
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2014-102294 2014-98190 2014-98174 2014-98862 2012-81340 2014-95153 2012-86388 2012-86300 2012-86575 2012-86335 2012-81669 2012-81668 2014-95727 2014-95680 2014-95679
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2月25日(火) -
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2月26日(水) -
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2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
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2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
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3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
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