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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第328位 132件
(2012年:第270位 155件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第233位 174件
(2012年:第225位 172件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2013-232552 | 半導体装置及び計測機器 | 2013年11月14日 | |
特開 2013-232810 | 半導体装置の製造方法 | 2013年11月14日 | |
特開 2013-232876 | 半導体装置及び計測機器 | 2013年11月14日 | |
特開 2013-232622 | 半導体装置及び計測機器 | 2013年11月14日 | |
特開 2013-232278 | 不揮発性半導体記憶装置 | 2013年11月14日 | |
特開 2013-232544 | 樹脂封止方法および半導体装置の製造方法 | 2013年11月14日 | |
特開 2013-232545 | 半導体装置、計測機器、及び補正方法 | 2013年11月14日 | |
特開 2013-228373 | 電池監視システム及び半導体装置 | 2013年11月 7日 | |
特開 2013-229467 | 保護テープ貼付け方法、保護テープ貼付け装置、及び半導体装置の製造方法 | 2013年11月 7日 | |
特開 2013-229075 | 半導体記憶装置 | 2013年11月 7日 | |
特開 2013-225339 | 半導体メモリの基準電位発生回路及び半導体メモリ | 2013年10月31日 | |
特開 2013-225568 | 半導体回路、及び半導体装置 | 2013年10月31日 | |
特開 2013-222474 | 不揮発性メモリ回路、半導体装置、及び読出し方法 | 2013年10月28日 | |
特開 2013-222365 | 半導体集積回路の試験装置、半導体集積回路の試験方法、半導体集積回路の試験プログラム | 2013年10月28日 | |
特開 2013-222473 | 半導体記憶装置 | 2013年10月28日 |
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2013-232552 2013-232810 2013-232876 2013-232622 2013-232278 2013-232544 2013-232545 2013-228373 2013-229467 2013-229075 2013-225339 2013-225568 2013-222474 2013-222365 2013-222473
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