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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第270位 155件 (2011年:第2279位 9件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第225位 172件 (2011年:第1927位 11件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-169522 | 過電圧保護回路及び半導体集積回路 | 2012年 9月 6日 | |
特開 2012-164910 | 半導体集積回路、半導体チップ、及び半導体集積回路の設計手法 | 2012年 8月30日 | |
特開 2012-160244 | 半導体不揮発性メモリ | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-160633 | 半導体装置の配線構造及びその製造方法 | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-160637 | 半導体装置及びその製造方法、並びにSOI基板及びその製造方法 | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-160654 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-161184 | 半導体回路、半導体装置、及び電池監視システム | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-160239 | メモリ装置 | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-159844 | 電流駆動回路 | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-156963 | 電圧識別装置及び時計制御装置 | 2012年 8月16日 | |
特開 2012-151941 | 昇圧システム、診断方法、及び診断プログラム | 2012年 8月 9日 | |
特開 2012-147587 | 半導体回路、電池監視システム、診断プログラム、及び診断方法 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-145418 | 半導体回路、半導体装置、断線検出方法、及び断線検出プログラム | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-146725 | 配線層の形成方法及び半導体装置の製造方法 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-141667 | 割り込み制御装置 | 2012年 7月26日 |
155 件中 46-60 件を表示
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2012-169522 2012-164910 2012-160244 2012-160633 2012-160637 2012-160654 2012-161184 2012-160239 2012-159844 2012-156963 2012-151941 2012-147587 2012-145418 2012-146725 2012-141667
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11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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