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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第328位 132件 (2012年:第270位 155件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第233位 174件 (2012年:第225位 172件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2013-207346 | 出力ドライバ、出力ドライバを含む電子機器、出力ドライバの試験方法 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-207174 | 半導体装置の製造方法 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-205173 | 半導体装置及び電池監視システム | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-206502 | 半導体メモリ | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-206482 | 半導体メモリ及びそのテスト方法 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-206924 | 基準電圧調整部を含む半導体集積装置及び基準電圧調整方法 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-200687 | クロック出力制御回路、半導体装置、電子機器、及びクロック出力制御方法 | 2013年10月 3日 | |
特開 2013-201674 | データ受信回路及びデータ受信方法 | 2013年10月 3日 | |
特開 2013-197260 | 半導体素子の製造方法及び製造装置 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-195157 | 半導体回路、電池監視システム、診断プログラム、及び診断方法 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-195097 | 半導体圧力センサ及びその製造方法、並びに圧力検出装置 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-195631 | 容量性表示パネルの駆動回路 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-197195 | 半導体素子の製造方法及び半導体素子 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-196721 | 半導体メモリ装置 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-197311 | 半導体装置およびその製造方法 | 2013年 9月30日 |
132 件中 46-60 件を表示
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2013-207346 2013-207174 2013-205173 2013-206502 2013-206482 2013-206924 2013-200687 2013-201674 2013-197260 2013-195157 2013-195097 2013-195631 2013-197195 2013-196721 2013-197311
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11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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