ホーム > 特許ランキング > ラピスセミコンダクタ株式会社 > 2013年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(ラピスセミコンダクタ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第328位 132件
(2012年:第270位 155件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第233位 174件
(2012年:第225位 172件)
(ランキング更新日:2025年3月28日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-207346 | 出力ドライバ、出力ドライバを含む電子機器、出力ドライバの試験方法 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-207174 | 半導体装置の製造方法 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-205173 | 半導体装置及び電池監視システム | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-206502 | 半導体メモリ | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-206482 | 半導体メモリ及びそのテスト方法 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-206924 | 基準電圧調整部を含む半導体集積装置及び基準電圧調整方法 | 2013年10月 7日 | |
特開 2013-200687 | クロック出力制御回路、半導体装置、電子機器、及びクロック出力制御方法 | 2013年10月 3日 | |
特開 2013-201674 | データ受信回路及びデータ受信方法 | 2013年10月 3日 | |
特開 2013-197260 | 半導体素子の製造方法及び製造装置 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-195157 | 半導体回路、電池監視システム、診断プログラム、及び診断方法 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-195097 | 半導体圧力センサ及びその製造方法、並びに圧力検出装置 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-195631 | 容量性表示パネルの駆動回路 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-197195 | 半導体素子の製造方法及び半導体素子 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-196721 | 半導体メモリ装置 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-197311 | 半導体装置およびその製造方法 | 2013年 9月30日 |
132 件中 46-60 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2013-207346 2013-207174 2013-205173 2013-206502 2013-206482 2013-206924 2013-200687 2013-201674 2013-197260 2013-195157 2013-195097 2013-195631 2013-197195 2013-196721 2013-197311
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ラピスセミコンダクタ株式会社の知財の動向チェックに便利です。
4月1日(火) - 山口 山口市
4月1日(火) -
4月2日(水) -
4月2日(水) -
4月4日(金) -
4月1日(火) - 山口 山口市
埼玉県戸田市上戸田3-13-13 ガレージプラザ戸田公園A-2 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒330-0846 埼玉県さいたま市大宮区大門町3-205 ABCビル401 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
茨城県龍ヶ崎市長山6-11-11 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング