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株式会社日本マイクロニクス
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第916位 31件
（
2013年：第742位 45件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第644位 49件
（2013年：第591位 57件）
（ランキング更新日：2025年2月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日本マイクロニクスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5486715 | センサ基板及び検査装置 | 2014年 5月 7日 | |
| 特許 5487049 | プローブカード | 2014年 5月 7日 | |
| 特許 5487050 | プローブカードの製造方法 | 2014年 5月 7日 | |
| 特許 5480756 | 平板状被検査体の試験装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5478133 | 集積回路の試験に用いるテストチップ | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5476641 | 電池短絡部除去装置及び方法、並びに、電池短絡部除去電圧決定装置及び方法 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5462060 | 圧力感知装置及びこれを用いるプローブカードの検査装置 | 2014年 4月 2日 | |
| 特許 5459673 | プローブユニット及び検査装置 | 2014年 4月 2日 | |
| 特許 5459646 | プローブユニット及び検査装置 | 2014年 4月 2日 | |
| 特許 5438908 | 電気的試験用接触子、これを用いた電気的接続装置及び接触子の製造方法 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5432460 | 検査装置 | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5432700 | 半導体デバイスの検査装置 | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5432804 | リペア装置 | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5412029 | プローブユニット基板 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5416986 | 電気的接続装置 | 2014年 2月12日 |
49 件中 31-45 件を表示
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5486715 5487049 5487050 5480756 5478133 5476641 5462060 5459673 5459646 5438908 5432460 5432700 5432804 5412029 5416986
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