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株式会社日本マイクロニクス

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  2014年 出願公開件数ランキング    第916位 31件 下降2013年:第742位 45件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第644位 49件 下降2013年:第591位 57件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5486715 センサ基板及び検査装置 2014年 5月 7日
特許 5487049 プローブカード 2014年 5月 7日
特許 5487050 プローブカードの製造方法 2014年 5月 7日
特許 5480756 平板状被検査体の試験装置 2014年 4月23日
特許 5478133 集積回路の試験に用いるテストチップ 2014年 4月23日
特許 5476641 電池短絡部除去装置及び方法、並びに、電池短絡部除去電圧決定装置及び方法 2014年 4月23日
特許 5462060 圧力感知装置及びこれを用いるプローブカードの検査装置 2014年 4月 2日
特許 5459673 プローブユニット及び検査装置 2014年 4月 2日
特許 5459646 プローブユニット及び検査装置 2014年 4月 2日
特許 5438908 電気的試験用接触子、これを用いた電気的接続装置及び接触子の製造方法 2014年 3月12日
特許 5432460 検査装置 2014年 3月 5日
特許 5432700 半導体デバイスの検査装置 2014年 3月 5日
特許 5432804 リペア装置 2014年 3月 5日
特許 5412029 プローブユニット基板 2014年 2月12日
特許 5416986 電気的接続装置 2014年 2月12日

49 件中 31-45 件を表示

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5486715 5487049 5487050 5480756 5478133 5476641 5462060 5459673 5459646 5438908 5432460 5432700 5432804 5412029 5416986

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