アンリツ株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第395位 104件
（
2011年：第315位 126件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第277位 132件
（
2011年：第486位 66件）
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-28883 | 誤り率測定装置および誤り率測定方法 | 2012年 2月 9日 | |
| 特開 2012-23655 | 偏波モード分散ストレス発生方法および装置 | 2012年 2月 2日 | |
| 特開 2012-22233 | 光変調器の初期動作点設定方法および多波長型光変調システム | 2012年 2月 2日 | |
| 特開 2012-18195 | 測定装置 | 2012年 1月26日 | |
| 特開 2012-18194 | 測定装置 | 2012年 1月26日 | |
| 特開 2012-18192 | 測定装置 | 2012年 1月26日 | |
| 特開 2012-19400 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2012年 1月26日 | |
| 特開 2012-19271 | 先頭レーン検出回路及び方法並びにデスキュー回路及び方法 | 2012年 1月26日 | |
| 特開 2012-8104 | 光測定装置及び光ファイバ線路試験方法 | 2012年 1月12日 | |
| 特開 2012-8103 | 光ストレス発生装置及び光ストレス発生方法 | 2012年 1月12日 | |
| 特開 2012-8076 | 光パルス試験方法及び光パルス試験装置 | 2012年 1月12日 | |
| 特開 2012-10153 | 可変位相器 | 2012年 1月12日 | |
| 特開 2012-9976 | 光コヒーレント検波器評価装置及び光コヒーレント検波器評価方法 | 2012年 1月12日 | |
| 特開 2012-9960 | 遅延測定システム及び遅延測定方法 | 2012年 1月12日 |
104 件中 91-104 件を表示
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2012-28883 2012-23655 2012-22233 2012-18195 2012-18194 2012-18192 2012-19400 2012-19271 2012-8104 2012-8103 2012-8076 2012-10153 2012-9976 2012-9960
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