※ ログインすれば出願人(HOYA株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第100位 441件
(2013年:第99位 482件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第108位 377件
(2013年:第93位 434件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-240127 | インプリント用モールド、パターンドメディア作製用基板およびパターンドメディア、並びにこれらの製造方法 | 2014年12月25日 | |
特開 2014-239734 | 超音波内視鏡 | 2014年12月25日 | |
特開 2014-241321 | インプリント用モールド、パターンドメディア作製用基板およびパターンドメディア、並びにこれらの製造方法 | 2014年12月25日 | |
特開 2014-237586 | 車載カメラ用レンズ | 2014年12月18日 | |
特開 2014-236833 | 内視鏡挿入部の可撓管構造 | 2014年12月18日 | |
特開 2014-236806 | 内視鏡システム | 2014年12月18日 | |
特開 2014-233367 | スペーサ固定用糸、及びその製造方法、並びにスペーサ固定用糸付きスペーサ | 2014年12月15日 | |
特開 2014-233584 | 撮像素子冷却構造 | 2014年12月15日 | |
特開 2014-235388 | ズームレンズ系 | 2014年12月15日 | |
特開 2014-233387 | 内視鏡及び内視鏡システム | 2014年12月15日 | |
特開 2014-235760 | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 | 2014年12月15日 | |
特開 2014-235761 | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 | 2014年12月15日 | |
特開 2014-233344 | 光学フィルタ素子、波長可変光バンドパスフィルタモジュール、波長可変光源装置及び分光内視鏡装置 | 2014年12月15日 | |
特開 2014-230673 | 内視鏡の先端部構造 | 2014年12月11日 | |
特開 2014-232191 | マスクブランク、位相シフトマスク、これらの製造方法、および半導体デバイスの製造方法 | 2014年12月11日 |
441 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2014-240127 2014-239734 2014-241321 2014-237586 2014-236833 2014-236806 2014-233367 2014-233584 2014-235388 2014-233387 2014-235760 2014-235761 2014-233344 2014-230673 2014-232191
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。HOYA株式会社の知財の動向チェックに便利です。
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
〒530-0044 大阪府大阪市北区東天満1丁目11番15号 若杉グランドビル別館802 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
Floor 16, Tower A, InDo Building, A48 Zhichun Road, Haidian District, Beijing 100098, P.R. China 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都江戸川区西葛西3-13-2-501 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング