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ケーエルエー−テンカー コーポレイション
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第514位 67件
（
2013年：第700位 49件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第1030位 27件
（
2013年：第850位 36件）
（ランキング更新日：2025年7月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ケーエルエー−テンカー コーポレイションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5529806 | 異なる検査パラメータを使用する試験片の検査のための方法とシステム | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5519106 | 能力が向上した表面検査システム | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5495555 | 非球面を使用した小型で超高ＮＡの反射屈折対物レンズ | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5469688 | 散乱計測マーク、ターゲット構造、計測用システム、およびオーバーレイ誤差等の決定方法 | 2014年 4月16日 | |
| 特許 5466264 | 検査データと組み合わせて設計データを使用するための方法及びシステム | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5465880 | 検査データと組み合わせて設計データを使用するための方法及びシステム | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5443759 | オーバレイ測定におけるマイクロターゲットの設計と使用のための方法と装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5448923 | マルチチャネルデータのグラフィック表現を用いて基板の表面において生じる欠陥を分類するための方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5438700 | 統合化されたプロセス条件検知用ウェハおよびデータ解析システム | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5438064 | 統合利用のために改良された検査システム | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5425494 | 不良検出システムの改良 | 2014年 2月26日 | |
| 特許 5390853 | 表面検査システム | 2014年 1月15日 |
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5529806 5519106 5495555 5469688 5466264 5465880 5443759 5448923 5438700 5438064 5425494 5390853
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