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ケーエルエー−テンカー コーポレイション
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第1563位 15件
（
2010年：第2121位 11件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第842位 33件
（2010年：第1381位 15件）
（ランキング更新日：2024年10月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ケーエルエー−テンカー コーポレイションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4633254 | 回折構造体、広帯域、偏光、エリプソメトリおよび下地構造の測定 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4619005 | 異常を発見するために試料を光学的に検査するシステム | 2011年 1月26日 | |
| 特許 4616472 | 表面の異常および／または特徴を検出するためのシステム | 2011年 1月19日 |
33 件中 31-33 件を表示
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4633254 4619005 4616472
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日常実務の疑問点に答える著作権 （周辺領域の商標・不正競争防止法を含む）に関するQ&A ～日常業務において、判断に迷う・知らずして間違いを犯しがちなケースを取り上げて、Ｑ＆Ａ形式で平易に解説～
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