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中国科学院光電技術研究所
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第2460位 8件
（
2023年：第4586位 4件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第2210位 8件
（2023年：第6302位 2件）
（ランキング更新日：2025年1月7日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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中国科学院光電技術研究所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特表 2024-545982 | Ｆ－Ｐセンサプローブ、絶対距離測定装置および絶対距離測定方法 | 2024年12月17日 | |
| 特表 2024-529614 | 照明視野の不均一性検知システム、検知方法、補正方法および装置 | 2024年 8月 8日 | |
| 特表 2024-528508 | レベルセットアルゴリズムに基づく超解像リソグラフィのリバース光近接効果補正方法 | 2024年 7月30日 | |
| 特表 2024-527305 | フォトリソグラフィ方法 | 2024年 7月24日 | |
| 特表 2024-526224 | 表面プラズモン近接場リソグラフィにおけるマスクのトポロジ最適化の方法及びシステム | 2024年 7月17日 | |
| 特表 2024-524333 | フォトレジスト組成物およびその使用 | 2024年 7月 5日 | |
| 特表 2024-522897 | 金属－誘電体ストライプ配列に基づく超解像レンズの調製方法および使用 | 2024年 6月21日 | |
| 特表 2024-515721 | 近接場フォトリソグラフィー浸漬システム、その浸漬ユニット及びインターフェースモジュール | 2024年 4月10日 |
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2024-545982 2024-529614 2024-528508 2024-527305 2024-526224 2024-524333 2024-522897 2024-515721
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