※ ログインすれば出願人(株式会社ニコン)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2016年 出願公開件数ランキング 第83位 510件
(2015年:第35位 1086件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第40位 668件
(2015年:第42位 547件)
(ランキング更新日:2025年8月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6035686 | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 | 2016年11月30日 | |
特許 6035691 | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 | 2016年11月30日 | |
特許 6035692 | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 | 2016年11月30日 | |
特許 6035694 | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 | 2016年11月30日 | |
特許 6035695 | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 | 2016年11月30日 | |
特許 6035728 | 焦点調節装置および撮像装置 | 2016年11月30日 | |
特許 6035740 | 操作ユニット、および電子機器 | 2016年11月30日 | |
特許 6035777 | 撮像装置 | 2016年11月30日 | |
特許 6035821 | 情報表示システム | 2016年11月30日 | |
特許 6035981 | 赤外線ズームレンズ、赤外線多焦点レンズおよび赤外線撮像装置 | 2016年11月30日 | |
特許 6036366 | 電子制御装置、電子制御装置の制御方法、および電子制御装置の制御プログラム | 2016年11月30日 | |
特許 6036660 | 交換レンズおよびカメラボディ | 2016年11月30日 | |
特許 6036680 | 検査装置および半導体装置の製造方法 | 2016年11月30日 | |
特許 6036684 | 非線形顕微鏡及び非線形観察方法 | 2016年11月30日 | |
特許 6036791 | 露光装置及び露光方法、デバイス製造方法 | 2016年11月30日 |
678 件中 46-60 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6035686 6035691 6035692 6035694 6035695 6035728 6035740 6035777 6035821 6035981 6036366 6036660 6036680 6036684 6036791
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ニコンの知財の動向チェックに便利です。
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
9月1日(月) - 東京 港区
特許庁:AI/DX時代に即した産業財産権制度について ~有識者委員会での議論を踏まえた、特許・意匠制度の見直しの方向性~
9月1日(月) -
9月2日(火) -
9月2日(火) -
9月2日(火) - 東京 港区
9月3日(水) -
9月3日(水) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月4日(木) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月5日(金) -
9月5日(金) -
9月6日(土) -
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
9月10日(水) - 東京 港区
9月10日(水) -
9月11日(木) - 東京 江東区
9月11日(木) - 広島 広島
ますます頼りにされる商標担当者になるための3つのポイント ~ 社内の商標相談にサクサクと答えられるエッセンスを教えます ~
9月12日(金) -
9月12日(金) -
特許業務法人 藤本パートナーズ 株式会社ネットス 株式会社パトラ
大阪オフィス:大阪市中央区南船場1-15-14 堺筋稲畑ビル2F 5F 東京オフィス:東京都千代田区平河町1-1-8 麹町市原ビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒141-0031 東京都品川区西五反田3-6-20 いちご西五反田ビル8F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
愛知県名古屋市天白区中平三丁目2702番地 グランドールS 203号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング