アンリツ株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第315位 126件
（
2010年：第351位 125件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第486位 66件
（
2010年：第359位 83件）
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4846788 | データ信号発生装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4834690 | ガス検知装置用波長可変型半導体レーザ及びガス検知装置 | 2011年12月14日 | |
| 特許 4837617 | ジッタ測定装置及びその校正方法 | 2011年12月14日 | |
| 特許 4829580 | 電界強度測定装置 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4828462 | 擬似基地局装置 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4819742 | 信号処理方法および信号処理装置 | 2011年11月24日 | |
| 特許 4814136 | 信号処理方法および信号処理装置 | 2011年11月16日 | |
| 特許 4812685 | ＡＰＤ測定装置及び信号測定装置 | 2011年11月 9日 | |
| 特許 4814017 | 変調方式識別装置 | 2011年11月 9日 | |
| 特許 4813389 | 擬似基地局装置 | 2011年11月 9日 | |
| 特許 4813907 | 電界強度測定装置 | 2011年11月 9日 | |
| 特許 4804261 | 半導体光素子の製造方法および半導体光素子用半導体基板 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4803846 | 光信号同期サンプリング装置及びその方法並びにそれを用いる光信号モニタ装置及びその方法 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4797070 | ランダムエラー分布評価方法及びその評価装置 | 2011年10月19日 | |
| 特許 4796972 | シナリオ生成装置及びシナリオ生成方法 | 2011年10月19日 |
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4846788 4834690 4837617 4829580 4828462 4819742 4814136 4812685 4814017 4813389 4813907 4804261 4803846 4797070 4796972
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