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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第482位 65件
(
2019年:第414位 84件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第463位 52件
(
2019年:第407位 64件)
(ランキング更新日:2026年10月16日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6785899 | 周波数特性表示装置および周波数特性表示方法 | 2020年11月18日 | |
| 特許 6776320 | PAM4シンボルエラー付加装置および方法と誤り率測定装置および方法 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6776298 | 信号発生装置および信号発生方法と誤り率測定装置および誤り率測定方法 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6774982 | キャリブレーションシステム及びキャリブレーション方法 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6774512 | FECエラー付加装置、それを用いた試験信号発生装置、及びFECエラー付加方法 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6774511 | FECエラー付加装置、それを用いた試験信号発生装置、及びFECエラー付加方法 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6767529 | 導波管接続構造、それを用いた導波管スイッチ及びミリ波帯スペクトラムアナライザ | 2020年10月14日 | |
| 特許 6759521 | 測定装置及び測定方法 | 2020年 9月23日 | |
| 特許 6755825 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | 2020年 9月16日 | |
| 特許 6755824 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | 2020年 9月16日 | |
| 特許 6755823 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | 2020年 9月16日 | |
| 特許 6752746 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | 2020年 9月 9日 | |
| 特許 6752745 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | 2020年 9月 9日 | |
| 特許 6754411 | 導波管接続構造、それを用いたミリ波帯フィルタバンク及びミリ波帯スペクトラムアナライザ | 2020年 9月 9日 | |
| 特許 6743332 | 測定装置、測定システム及び測定方法 | 2020年 8月19日 |
52 件中 1-15 件を表示
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6785899 6776320 6776298 6774982 6774512 6774511 6767529 6759521 6755825 6755824 6755823 6752746 6752745 6754411 6743332
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