アンリツ株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第417位 98件
（
2012年：第395位 104件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第255位 154件
（
2012年：第277位 132件）
（ランキング更新日：2025年12月12日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5379721 | 基地局評価装置およびその受信周波数制御方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5379714 | 基地局評価装置およびその測定条件設定方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5378440 | ＯＰＵフレーム生成装置及びＯＰＵフレーム試験装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5372634 | サンプリング波形測定装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5372447 | サンプリング装置および信号モニタ | 2013年12月18日 | |
| 特許 5363421 | 光コヒーレント検波器評価装置及び光コヒーレント検波器評価方法 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5357942 | 移動体通信装置試験システムおよび試験方法 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5357845 | 偏波モード分散ストレス発生方法および装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5351231 | リレーノードシミュレーター及び試験方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5350152 | 光電気変換式信号発生装置、スペクトルアナライザ、及び基準電波発生装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5345961 | 光無線システム評価装置及び光無線システム評価方法 | 2013年11月20日 | |
| 特許 5345567 | 誤り率測定装置及び方法 | 2013年11月20日 | |
| 特許 5346692 | 光半導体素子モジュール | 2013年11月20日 | |
| 特許 5337419 | 変位測定装置、それを用いたシール部材形状測定装置及びそれらに用いられる変位検出装置 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5337843 | 移動通信端末試験装置及び移動通信端末試験方法 | 2013年11月 6日 |
154 件中 1-15 件を表示
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5379721 5379714 5378440 5372634 5372447 5363421 5357942 5357845 5351231 5350152 5345961 5345567 5346692 5337419 5337843
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