※ ログインすれば出願人(アンリツ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第484位 72件
(
2013年:第417位 98件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第288位 134件
(
2013年:第255位 154件)
(ランキング更新日:2026年3月17日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年 2026年
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5647205 | 移動体通信端末試験装置及び移動体通信端末試験方法 | 2014年12月24日 | |
| 特許 5647206 | 移動体通信端末試験装置及び移動体通信端末試験方法 | 2014年12月24日 | |
| 特許 5643780 | 無線端末測定装置、無線端末測定システム、及び無線端末測定方法 | 2014年12月17日 | |
| 特許 5638498 | 光パルス試験システム及び光パルス試験方法 | 2014年12月10日 | |
| 特許 5636414 | 測定結果表示装置及び方法 | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5634291 | 光スペクトラム測定装置及び光スペクトラム測定方法 | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5632349 | 測定装置 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5631636 | OSNR評価装置及びOSNR評価方法 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5632348 | 測定装置 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5632931 | 試験装置及び試験方法 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5629567 | 光パワーメータ及び光パワー測定方法 | 2014年11月19日 | |
| 特許 5627848 | 光パルス試験器及び光パルス試験方法 | 2014年11月19日 | |
| 特許 5622196 | 可変光遅延器及び可変光遅延方法 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5624785 | 波形評価装置及び波形評価方法 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5623575 | 光パルス試験器 | 2014年11月12日 |
134 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5647205 5647206 5643780 5638498 5636414 5634291 5632349 5631636 5632348 5632931 5629567 5627848 5622196 5624785 5623575
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。アンリツ株式会社の知財の動向チェックに便利です。
3月17日(火) - オンライン
事業に貢献しリスクを回避する 「多様な知財戦略」の基礎から高度な実践法まで ~様々な知財戦略の要諦と、実践に不可欠な「有効特許」の取得・活用戦略、併せてリスク回避実践法についても詳説~
3月17日(火) - オンライン
3月18日(水) - オンライン
3月18日(水) - オンライン
3月18日(水) - オンライン
3月18日(水) - オンライン
3月18日(水) - オンライン
メーカー知財責任者様向けセミナー 「その共同研究、本当に大丈夫ですか?」 製造業事業者が知っておくべき知財リスクと対策セミナー
3月18日(水) - オンライン
3月18日(水) - オンライン
3月19日(木) - 大阪 大阪市
3月19日(木) - オンライン
3月19日(木) - オンライン
3月19日(木) - オンライン
3月23日(月) - オンライン
3月23日(月) - オンライン
3月23日(月) - オンライン
3月23日(月) - オンライン
3月23日(月) - オンライン
3月24日(火) - 東京 品川区
3月24日(火) - オンライン
3月25日(水) - 東京 品川区
3月25日(水) - オンライン
3月26日(木) - 東京 港区
3月26日(木) - オンライン
3月26日(木) - オンライン
3月26日(木) - オンライン
3月26日(木) - オンライン
3月26日(木) - オンライン
3月27日(金) - オンライン
3月27日(金) - オンライン
3月27日(金) - オンライン
3月23日(月) - オンライン
東京都港区北青山2丁目7番20号 第二猪瀬ビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
Floor 16, Tower A, InDo Building, A48 Zhichun Road, Haidian District, Beijing 100098, P.R. China 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒104-0045 東京都中央区築地1-12-22 コンワビル4F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング