アンリツ株式会社
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第526位 72件
（
2016年：第423位 82件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第387位 69件
（
2016年：第466位 61件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6250725 | ＥＳＤ保護回路およびＥＳＤ保護方法 | 2017年12月20日 | |
| 特許 6250727 | 誤り率測定装置および該装置の自動補正方法 | 2017年12月20日 | |
| 特許 6250737 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2017年12月20日 | |
| 特許 6250738 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2017年12月20日 | |
| 特許 6247329 | 移動端末試験装置及び移動端末試験方法 | 2017年12月13日 | |
| 特許 6244349 | 移動端末試験装置とそのフロー制御閾値の設定方法 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6244386 | 移動端末試験装置とそのスループット測定方法 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6240738 | 半導体光増幅器 | 2017年11月29日 | |
| 特許 6235631 | アイダイアグラム表示装置およびアイダイアグラム表示方法 | 2017年11月22日 | |
| 特許 6235992 | 移動端末試験装置とそのアップリンク信号試験方法 | 2017年11月22日 | |
| 特許 6236424 | 電波伝播測定装置及びその受信タイミング表示方法 | 2017年11月22日 | |
| 特許 6226897 | ＯＦＤＲ装置および方法 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6226945 | マルチバンドイコライザ、それを用いた誤り率測定システム、誤り率測定装置、及び経路選択方法 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6227613 | 誤り率測定装置の過電流保護回路及び過電流保護方法 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6227733 | 非線形ＰＡＭ４信号発生装置及び非線形ＰＡＭ４信号発生方法 | 2017年11月 8日 |
71 件中 1-15 件を表示
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6250725 6250727 6250737 6250738 6247329 6244349 6244386 6240738 6235631 6235992 6236424 6226897 6226945 6227613 6227733
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