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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第526位 72件
(2016年:第423位 82件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第387位 69件
(2016年:第466位 61件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6250725 | ESD保護回路およびESD保護方法 | 2017年12月20日 | |
特許 6250727 | 誤り率測定装置および該装置の自動補正方法 | 2017年12月20日 | |
特許 6250737 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2017年12月20日 | |
特許 6250738 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2017年12月20日 | |
特許 6247329 | 移動端末試験装置及び移動端末試験方法 | 2017年12月13日 | |
特許 6244349 | 移動端末試験装置とそのフロー制御閾値の設定方法 | 2017年12月 6日 | |
特許 6244386 | 移動端末試験装置とそのスループット測定方法 | 2017年12月 6日 | |
特許 6240738 | 半導体光増幅器 | 2017年11月29日 | |
特許 6235631 | アイダイアグラム表示装置およびアイダイアグラム表示方法 | 2017年11月22日 | |
特許 6235992 | 移動端末試験装置とそのアップリンク信号試験方法 | 2017年11月22日 | |
特許 6236424 | 電波伝播測定装置及びその受信タイミング表示方法 | 2017年11月22日 | |
特許 6226897 | OFDR装置および方法 | 2017年11月 8日 | |
特許 6226945 | マルチバンドイコライザ、それを用いた誤り率測定システム、誤り率測定装置、及び経路選択方法 | 2017年11月 8日 | |
特許 6227613 | 誤り率測定装置の過電流保護回路及び過電流保護方法 | 2017年11月 8日 | |
特許 6227733 | 非線形PAM4信号発生装置及び非線形PAM4信号発生方法 | 2017年11月 8日 |
71 件中 1-15 件を表示
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6250725 6250727 6250737 6250738 6247329 6244349 6244386 6240738 6235631 6235992 6236424 6226897 6226945 6227613 6227733
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2月20日(木) -
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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2月25日(火) -
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2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
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2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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