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パルステック工業株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第1585位 17件
（
2012年：第982位 29件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第1072位 26件
（
2012年：第1326位 20件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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パルステック工業株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5353844 | レーザ加工装置、及び、レーザ加工装置のフォーカスサーボ制御方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5327285 | Ｘ線回折測定装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5321628 | 電解液濃度測定装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5305023 | 製品検査装置および製品検査方法 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5299474 | Ｘ線回折測定装置 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5293686 | ３次元形状測定装置 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5273091 | ３次元形状測定装置及び３次元形状測定方法 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5257494 | ２次電池の評価装置及び評価方法 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5246438 | レーザ加工装置 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5240306 | 太陽電池検査装置 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5240289 | ３次元形状測定装置 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5234012 | ホログラム記録再生装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5234136 | 太陽電池検査装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5229352 | ２次電池の検査装置及び検査方法 | 2013年 7月 3日 | |
| 特許 5195649 | レーザ加工装置、および、レーザ加工装置のフォーカスサーボ制御方法 | 2013年 5月 8日 |
26 件中 1-15 件を表示
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5353844 5327285 5321628 5305023 5299474 5293686 5273091 5257494 5246438 5240306 5240289 5234012 5234136 5229352 5195649
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