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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7369930 | X線回折測定装置およびX線回折測定装置の撮像面機構特性検出方法 | 2023年10月27日 | |
特許 7280516 | X線回折測定装置 | 2023年 5月24日 |
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7369930 7280516
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