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パルステック工業株式会社
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第2477位 8件
（
2015年：第2275位 9件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第1218位 17件
（
2015年：第2016位 8件）
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パルステック工業株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6048547 | Ｘ線回折測定装置 | 2016年12月21日 | |
| 特許 6044877 | Ｘ線回折測定装置 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6037237 | Ｘ線回折測定装置およびＸ線回折測定装置による測定方法 | 2016年12月 7日 | |
| 特許 6032500 | Ｘ線回折測定方法および入射角度調整用治具 | 2016年11月30日 | |
| 特許 6020848 | Ｘ線回折測定システム | 2016年11月 2日 | |
| 特許 5984024 | Ｘ線回折測定装置 | 2016年 9月 6日 | |
| 特許 5967394 | 回折環形成装置及びＸ線回折測定装置 | 2016年 8月10日 | |
| 特許 5967491 | Ｘ線回折測定装置およびＸ線回折測定装置におけるＸ線入射角検出方法 | 2016年 8月10日 | |
| 特許 5967500 | Ｘ線回折測定方法 | 2016年 8月10日 | |
| 特許 5962737 | Ｘ線回折測定装置およびＸ線回折測定方法 | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5958584 | Ｘ線回折測定装置及びＸ線回折測定方法 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5958999 | 軸受部品の検査方法および軸受部品の検査装置 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5954642 | Ｘ線回折測定装置および３軸残留応力測定の必要性判定方法 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5949704 | 回折環形成方法 | 2016年 7月13日 | |
| 特許 5920593 | Ｘ線回折測定システム | 2016年 5月18日 |
18 件中 1-15 件を表示
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6048547 6044877 6037237 6032500 6020848 5984024 5967394 5967491 5967500 5962737 5958584 5958999 5954642 5949704 5920593
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