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パルステック工業株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第1993位 11件
（
2013年：第1585位 17件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第1774位 13件
（2013年：第1072位 26件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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パルステック工業株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5644368 | レーザ加工装置及びレーザ加工装置のレーザ照射位置制御方法 | 2014年12月24日 | |
| 特許 5636920 | レーザ加工装置及びレーザ加工装置のサーボ制御方法 | 2014年12月10日 | |
| 特許 5575158 | 光路長可変装置及び透光性物体の厚さ測定装置 | 2014年 8月20日 | 共同出願 |
| 特許 5569510 | Ｘ線回折測定装置 | 2014年 8月13日 | |
| 特許 5533583 | 透光性管状物体の厚さ測定装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5522411 | Ｘ線回折測定装置及びＸ線回折測定方法 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5510667 | 透光性管状物体の厚さ測定装置 | 2014年 6月 4日 | |
| 特許 5505361 | Ｘ線回折装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5494458 | 太陽電池セル検査装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5447574 | 表面プロファイル測定装置および透光性物体厚さ測定装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5423999 | 太陽電池パネルの検査方法 | 2014年 2月19日 | |
| 特許 5408234 | Ｘ線回折測定装置及び残留応力測定方法 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5382038 | 透光性管状物体の厚さ測定装置 | 2014年 1月 8日 |
13 件中 1-13 件を表示
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5644368 5636920 5575158 5569510 5533583 5522411 5510667 5505361 5494458 5447574 5423999 5408234 5382038
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