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パルステック工業株式会社
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第2064位 10件
（
2017年：第2477位 9件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第2454位 6件
（
2017年：第1518位 12件）
（ランキング更新日：2026年1月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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パルステック工業株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6384686 | Ｖ溝深さ可変ステージ及びＸ線回折測定装置 | 2018年 9月 5日 | |
| 特許 6372731 | Ｘ線回折測定装置 | 2018年 8月15日 | |
| 特許 6361086 | Ｘ線回折測定装置及びＸ線回折測定方法 | 2018年 7月25日 | |
| 特許 6308374 | Ｘ線回折測定方法及び回折環読取装置 | 2018年 4月11日 | |
| 特許 6295396 | 光学観察装置、光学観察方法、標本観察画像の画像処理プログラム | 2018年 3月20日 | |
| 特許 6264591 | 熱膨張係数測定方法及びＸ線回折測定装置 | 2018年 1月24日 |
6 件中 1-6 件を表示
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6384686 6372731 6361086 6308374 6295396 6264591
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