※ ログインすれば出願人(株式会社リガク)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第1563位 15件
(2010年:第1215位 24件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第903位 30件
(2010年:第735位 33件)
(ランキング更新日:2025年5月2日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-247739 | 試料容器および発生ガス分析方法 | 2011年12月 8日 | |
特開 2011-247740 | X線分析装置 | 2011年12月 8日 | |
特開 2011-247834 | X線分析装置 | 2011年12月 8日 | |
特開 2011-232204 | カラーフィルタ基板検査方法及び検査装置 | 2011年11月17日 | 共同出願 |
特開 2011-227310 | 放射線画像読取装置 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-227346 | 放射線画像読取装置および画像記録体 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-149893 | 微小部X線計測装置 | 2011年 8月 4日 | |
特開 2011-142961 | 3次元CT測定装置 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-141148 | X線トポグラフィ装置 | 2011年 7月21日 | |
特開 2011-137772 | 測角器、測角器の製造方法及びX線分析装置 | 2011年 7月14日 | |
特開 2011-106903 | 蛍光X線分析用試料前処理装置およびそれを備えた蛍光X線分析システム | 2011年 6月 2日 | |
特開 2011-89794 | 蛍光X線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光X線分析方法および装置 | 2011年 5月 6日 | |
特開 2011-89952 | 蛍光X線分析装置 | 2011年 5月 6日 | |
特開 2011-89953 | 蛍光X線分析装置 | 2011年 5月 6日 | |
特開 2011-75542 | 蛍光X線分析方法 | 2011年 4月14日 |
15 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2011-247739 2011-247740 2011-247834 2011-232204 2011-227310 2011-227346 2011-149893 2011-142961 2011-141148 2011-137772 2011-106903 2011-89794 2011-89952 2011-89953 2011-75542
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社リガクの知財の動向チェックに便利です。
5月12日(月) -
5月13日(火) - 東京 港区
5月14日(水) - 東京 港区
5月14日(水) -
5月15日(木) - 東京 港区
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月12日(月) -
福岡市博多区博多駅前1-23-2-5F-B 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
新潟県新潟市東区新松崎3-22-15 ラフィネドミールⅡ-102 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟
東京都新宿区新宿5-10-1 第2スカイビル6階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング