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株式会社リガク

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株式会社リガクの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2019-219327	蛍光Ｘ線分析システム	2019年12月26日
特開 2019-211370	Ｘ線回折装置及びアタッチメント装置	2019年12月12日
特開 2019-203694	半導体ウエーハのＸ線測定方法	2019年11月28日
特開 2019-203882	Ｘ線解析、Ｘ線回折データを処理する方法及び装置	2019年11月28日
再表 2018-168939	蛍光Ｘ線分析方法、蛍光Ｘ線分析プログラムおよび蛍光Ｘ線分析装置	2019年11月14日
特開 2019-184254	非晶質相の定量分析装置、非晶質相の定量分析方法、及び非晶質相の定量分析プログラム	2019年10月24日
再表 2018-101023	Ｘ線反射率測定装置	2019年10月17日
特開 2019-164027	Ｘ線回折装置	2019年 9月26日
再表 2018-25618	物質構造の探索方法とそれに用いるＸ線構造解析システム	2019年 9月19日
特開 2019-158560	蛍光Ｘ線分析方法、蛍光Ｘ線分析装置またはプログラム	2019年 9月19日
再表 2018-78956	検出器	2019年 9月12日
特開 2019-152468	Ｘ線発生装置、及びＸ線分析装置	2019年 9月12日
特開 2019-100800	放射線画像生成装置	2019年 6月24日
特開 2019-78654	ソーラースリット、Ｘ線回折装置および方法	2019年 5月23日
特開 2019-74423	処理装置、方法およびプログラム	2019年 5月16日

26 件中 1-15 件を表示

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2019-219327 2019-211370 2019-203694 2019-203882 2018-168939 2019-184254 2018-101023 2019-164027 2018-25618 2019-158560 2018-78956 2019-152468 2019-100800 2019-78654 2019-74423

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