株式会社リガク
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第1113位 23件
（
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■ 2020年 特許取得件数ランキング 第1448位 12件
（
2019年：第919位 22件）
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株式会社リガクの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 再表 2019-130663 | Ｘ線検査装置 | 2020年12月17日 | |
| 特開 2020-186913 | Ｘ線ＣＴ装置、及びＣＴ画像再構成方法 | 2020年11月19日 | |
| 特開 2020-176988 | 微細構造の解析方法、装置およびプログラム | 2020年10月29日 | |
| 特開 2020-176992 | 微細構造の解析方法、装置およびプログラム | 2020年10月29日 | |
| 特開 2020-173175 | 投影像の撮影方法、制御装置、制御プログラム、処理装置および処理プログラム | 2020年10月22日 | |
| 特開 2020-165757 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2020年10月 8日 | |
| 特開 2020-159849 | 多結晶金属材料の劣化診断方法、装置およびシステム | 2020年10月 1日 | |
| 特開 2020-159850 | ニッケル基超合金の劣化診断方法、装置およびシステム | 2020年10月 1日 | |
| 特開 2020-159872 | 試料容器押圧機構、試料搬送装置、分析装置および試料搬送方法 | 2020年10月 1日 | |
| 特開 2020-153724 | Ｘ線分析装置 | 2020年 9月24日 | |
| 特開 2020-143933 | 放射線検出器および放射線検出方法 | 2020年 9月10日 | |
| 再表 2019-31019 | 結晶相定量分析装置、結晶相定量分析方法、及び結晶相定量分析プログラム | 2020年 7月 9日 | |
| 特開 2020-91228 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2020年 6月11日 | |
| 特開 2020-85680 | Ｘ線信号処理装置及びＸ線分析装置 | 2020年 6月 4日 | |
| 特開 2020-51977 | 測定装置、プログラム及び測定装置の制御方法 | 2020年 4月 2日 |
23 件中 1-15 件を表示
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2019-130663 2020-186913 2020-176988 2020-176992 2020-173175 2020-165757 2020-159849 2020-159850 2020-159872 2020-153724 2020-143933 2019-31019 2020-91228 2020-85680 2020-51977
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