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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第759位 41件
(2011年:第1563位 15件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第926位 32件
(2011年:第903位 30件)
(ランキング更新日:2025年5月2日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-255769 | 複合X線分析装置 | 2012年12月27日 | |
再表 2011-2037 | X線装置、その使用方法およびX線照射方法 | 2012年12月13日 | |
特開 2012-242285 | 波長分散型蛍光X線分析装置 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-230017 | X線分析装置の試料冷却装置及びX線分析装置 | 2012年11月22日 | |
再表 2010-119844 | 表面微細構造計測方法、表面微細構造計測データ解析方法およびX線散乱測定装置 | 2012年10月22日 | |
特開 2012-187350 | CT画像処理装置およびCT画像処理方法 | 2012年10月 4日 | |
再表 2010-109912 | X線発生装置のターゲットと、その加工方法 | 2012年 9月27日 | |
再表 2010-109909 | X線発生装置とそれを用いた検査装置 | 2012年 9月27日 | |
特開 2012-177688 | X線回折装置 | 2012年 9月13日 | |
特開 2012-168124 | X線検出信号処理装置および方法 | 2012年 9月 6日 | |
特開 2012-159404 | 蛍光X線分析装置 | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-159311 | X線測定用電池構造体及びその支持装置 | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-142115 | X線発生装置 | 2012年 7月26日 | |
特開 2012-142114 | X線発生装置 | 2012年 7月26日 | |
特開 2012-137379 | X線検出器 | 2012年 7月19日 |
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2012-255769 2011-2037 2012-242285 2012-230017 2010-119844 2012-187350 2010-109912 2010-109909 2012-177688 2012-168124 2012-159404 2012-159311 2012-142115 2012-142114 2012-137379
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