特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社リガク

※ ログインすれば出願人(株式会社リガク)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2012年出願公開件数ランキング　　　第759位　41件（2011年：第1563位　15件）

　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第926位　32件（2011年：第903位　30件）

（ランキング更新日：2026年3月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年 2026年

株式会社リガクの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2012-255769	複合Ｘ線分析装置	2012年12月27日
再表 2011-2037	Ｘ線装置、その使用方法およびＸ線照射方法	2012年12月13日
特開 2012-242285	波長分散型蛍光Ｘ線分析装置	2012年12月10日
特開 2012-230017	Ｘ線分析装置の試料冷却装置及びＸ線分析装置	2012年11月22日
再表 2010-119844	表面微細構造計測方法、表面微細構造計測データ解析方法およびＸ線散乱測定装置	2012年10月22日
特開 2012-187350	ＣＴ画像処理装置およびＣＴ画像処理方法	2012年10月 4日
再表 2010-109912	Ｘ線発生装置のターゲットと、その加工方法	2012年 9月27日
再表 2010-109909	Ｘ線発生装置とそれを用いた検査装置	2012年 9月27日
特開 2012-177688	Ｘ線回折装置	2012年 9月13日
特開 2012-168124	Ｘ線検出信号処理装置および方法	2012年 9月 6日
特開 2012-159404	蛍光Ｘ線分析装置	2012年 8月23日
特開 2012-159311	Ｘ線測定用電池構造体及びその支持装置	2012年 8月23日
特開 2012-142115	Ｘ線発生装置	2012年 7月26日
特開 2012-142114	Ｘ線発生装置	2012年 7月26日
特開 2012-137379	Ｘ線検出器	2012年 7月19日

41 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2012-255769 2011-2037 2012-242285 2012-230017 2010-119844 2012-187350 2010-109912 2010-109909 2012-177688 2012-168124 2012-159404 2012-159311 2012-142115 2012-142114 2012-137379

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社リガクの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2026年特許出願件数	2026年特許取得件数
2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数