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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第1007位 30件
(2016年:第2477位 8件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第1076位 19件
(2016年:第808位 29件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2017-227586 | 処理方法、処理装置および処理プログラム | 2017年12月28日 | |
特開 2017-223539 | X線回折装置 | 2017年12月21日 | |
特開 2017-211251 | 結晶相同定方法、結晶相同定装置、及びX線回折測定システム | 2017年11月30日 | |
特開 2017-207372 | X線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラム | 2017年11月24日 | |
再表 2017-38701 | 蛍光X線分析装置 | 2017年10月12日 | |
特開 2017-181309 | 蛍光X線分析装置および蛍光X線分析方法 | 2017年10月 5日 | |
特開 2017-167032 | 放射線画像生成装置 | 2017年 9月21日 | |
特開 2017-161276 | 多元素同時型蛍光X線分析装置および多元素同時蛍光X線分析方法 | 2017年 9月14日 | |
再表 2017-26200 | 蛍光X線分析装置 | 2017年 8月31日 | |
再表 2016-59672 | X線薄膜検査装置 | 2017年 8月17日 | |
再表 2016-59673 | X線薄膜検査装置 | 2017年 8月 3日 | |
再表 2016-63586 | データ処理装置、各ピクセルの特性を求める方法ならびにデータ処理の方法およびプログラム | 2017年 8月 3日 | |
特開 2017-133977 | X線画像化装置の試料支持装置 | 2017年 8月 3日 | |
特開 2017-122647 | 蛍光X線分析装置 | 2017年 7月13日 | |
再表 2016-39091 | X線発生装置及びX線分析装置 | 2017年 6月29日 |
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2017-227586 2017-223539 2017-211251 2017-207372 2017-38701 2017-181309 2017-167032 2017-161276 2017-26200 2016-59672 2016-59673 2016-63586 2017-133977 2017-122647 2016-39091
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