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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第1130位 22件
(2021年:第873位 32件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第1089位 20件
(2021年:第895位 23件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2022-187637 | 蛍光X線分析装置 | 2022年12月20日 | |
特開 2022-187318 | 結晶化度測定装置、結晶化度測定方法及びプログラム | 2022年12月19日 | |
特開 2022-186254 | 定量分析装置、方法およびプログラムならびに製造管理システム | 2022年12月15日 | |
特開 2022-182171 | 検出器およびX線回折装置 | 2022年12月 8日 | |
特開 2022-150461 | 公差誤差推定装置、方法、プログラム、再構成装置および制御装置 | 2022年10月 7日 | |
特開 2022-146670 | 放射線測定装置 | 2022年10月 5日 | |
特開 2022-134358 | 異物検出装置及び異物検出方法 | 2022年 9月15日 | |
特開 2022-116700 | X線分析装置 | 2022年 8月10日 | |
特開 2022-99145 | センターシフト量推定装置、方法およびプログラム | 2022年 7月 4日 | |
特開 2022-93174 | 混合物の回折パターン分析方法、装置、プログラム及び情報記憶媒体 | 2022年 6月23日 | |
特開 2022-87438 | 全反射蛍光X線分析装置 | 2022年 6月13日 | |
特開 2022-86669 | 蛍光X線分析装置 | 2022年 6月 9日 | |
特開 2022-83881 | 層厚計測方法 | 2022年 6月 6日 | |
特開 2022-83353 | 層厚解析方法 | 2022年 6月 3日 | |
特開 2022-80773 | 定量分析装置、方法、プログラム及び情報記憶媒体 | 2022年 5月30日 |
24 件中 1-15 件を表示
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2022-187637 2022-187318 2022-186254 2022-182171 2022-150461 2022-146670 2022-134358 2022-116700 2022-99145 2022-93174 2022-87438 2022-86669 2022-83881 2022-83353 2022-80773
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