ホーム > 特許ランキング > カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー > 2018年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2018年 出願公開件数ランキング 第1468位 16件 (2017年:第1110位 27件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第744位 29件 (2017年:第1363位 14件)
(ランキング更新日:2024年9月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6444406 | 高解像度スキャニング顕微鏡法 | 2018年12月26日 | |
特許 6441587 | 3D高解像度局在顕微鏡法のための方法 | 2018年12月19日 | |
特許 6442488 | ルミネセンス顕微鏡検査 | 2018年12月19日 | |
特許 6431681 | デジタル顕微鏡用旋回アーム・スタンド | 2018年11月28日 | |
特許 6431682 | 対物レンズマウント | 2018年11月28日 | |
特許 6411115 | ズーム系を有するデジタル光学撮像システムを較正するための方法、ズーム系を有するデジタル光学撮像システムにおける収差を補正するための方法、及びデジタル光学撮像システム | 2018年10月24日 | |
特許 6411472 | レーザスキャニング顕微鏡、および特に高解像度のスキャニング顕微鏡法で結像収差を修正する方法 | 2018年10月24日 | |
特許 6408239 | デジタル光顕微鏡において物体を照明するための方法、デジタル光顕微鏡およびデジタル光顕微鏡用の明視野反射光照明デバイス | 2018年10月17日 | |
特許 6408275 | デジタル光学機器の校正方法およびデジタル光学機器 | 2018年10月17日 | |
特許 6408543 | 走査型光学ユニットを用いた光照射野の画像化 | 2018年10月17日 | |
特許 6393474 | 高分解能3D位置特定顕微鏡検査方法 | 2018年 9月19日 | |
特許 6377247 | 物体を画像化する方法及び装置 | 2018年 8月22日 | |
特許 6374197 | デジタル顕微鏡およびデジタル顕微鏡の作業工程を最適化する方法 | 2018年 8月15日 | |
特許 6362498 | 微視的標本を検査するための光学顕微鏡および顕微鏡方法 | 2018年 7月25日 | |
特許 6348314 | 顕微鏡対物レンズ用リング照明装置と顕微鏡対物レンズ | 2018年 6月27日 |
29 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6444406 6441587 6442488 6431681 6431682 6411115 6411472 6408239 6408275 6408543 6393474 6377247 6374197 6362498 6348314
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーの知財の動向チェックに便利です。
9月24日(火) -
9月24日(火) -
9月24日(火) - 石川 金沢市
9月24日(火) -
9月25日(水) - 愛知 名古屋市
9月25日(水) -
最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点(米国・欧州(EPC)・中国)~米国ならびに EPC (欧州特許条約)・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します~
9月25日(水) - 東京 港
9月25日(水) -
9月25日(水) - 愛知 名古屋市
9月25日(水) - 東京 千代田区
9月25日(水) - 東京 千代田区
9月26日(木) -
9月26日(木) -
9月27日(金) -
9月27日(金) - 東京 23区
9月27日(金) - 神奈川 川崎市
9月27日(金) - 東京 港区
9月24日(火) -
大阪市北区豊崎3-20-9 三栄ビル7階 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
大阪市天王寺区上本町六丁目9番10号 青山ビル本館3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
大阪府大阪市西区靱本町1丁目10番4号 本町井出ビル2F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング