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ソイテック

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 ■ 2026年 出願公開件数ランキング    第1556位 11件 (下降2025年:第1548位 14件)

 ■ 2026年 特許取得件数ランキング    第2463位 5件 (上昇2025年:第3537位 4件)

(ランキング更新日:2026年10月16日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特表 2026-531790 薄膜を支持基板に転写する方法 2026年 9月24日
特開 2026-102979 凝集体を含む界面領域を備えた半導体構造を生成する方法 2026年 6月23日
特表 2026-515548 無線周波数用途用支持基板の製造方法 2026年 5月18日
特表 2026-515084 圧電体オンインシュレータ(POI)基板、及び圧電体オンインシュレータ(POI)基板を製造するためのプロセス 2026年 5月14日
特表 2026-514271 圧電体オンインシュレータ(POI)基板、及び圧電体オンインシュレータ(POI)基板を製造するためのプロセス 2026年 5月 8日
特表 2026-512971 圧電体オンインシュレータ(POI)基板、及び圧電体オンインシュレータ(POI)基板を製造するためのプロセス 2026年 4月22日
特表 2026-512643 高抵抗率半導体スタックおよび関連スタックを生成するための方法 2026年 4月20日
特表 2026-506712 電荷トラップ層を含む担体、そのような担体を含む関連する複合基板、及び関連する製造プロセス 2026年 2月25日
特表 2026-505437 基板に付着された選択的分極を有する強誘電体層を含む集積構造、および製造方法 2026年 2月13日
特表 2026-505206 基板に付着され、その厚さの選択的な分極を有する強誘電体層を含む集積構造、および製造方法 2026年 2月12日
特表 2026-505018 汚染が制限された電荷トラップ層を備えた担体に取り付けられた表面層を含む構造体、及びその製造方法 2026年 2月10日
特表 2026-501372 多孔質シリコン層を含む多層構造を製造するための方法 2026年 1月14日

12 件中 1-12 件を表示

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2026-531790 2026-102979 2026-515548 2026-515084 2026-514271 2026-512971 2026-512643 2026-506712 2026-505437 2026-505206 2026-505018 2026-501372

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