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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第191位 199件
(2022年:第177位 207件)
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第182位 195件
(2022年:第165位 203件)
(ランキング更新日:2025年5月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2023-531853 | 高速検査用の傾斜型光干渉断層撮影イメージング | 2023年 7月26日 | |
特開 2023-101198 | 光学部材、光学素子、及び、光学部材の製造方法 | 2023年 7月20日 | |
特開 2023-100498 | レーザ加工補助具、レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2023年 7月19日 | |
特開 2023-100061 | 放射線検出器及び放射線検出器アレイ | 2023年 7月18日 | |
特開 2023-100063 | 放射線検出器及び放射線検出器アレイ | 2023年 7月18日 | |
特開 2023-99914 | 発光素子及び反射型エンコーダ | 2023年 7月14日 | |
特開 2023-99965 | 紫外線発光体の製造方法、紫外線発光体、及び紫外線光源 | 2023年 7月14日 | |
特開 2023-96464 | 分光装置 | 2023年 7月 7日 | |
特開 2023-96534 | 分光計測装置 | 2023年 7月 7日 | |
特開 2023-95275 | レーザ媒質ユニット、レーザ増幅装置及びレーザ発振装置 | 2023年 7月 6日 | |
特開 2023-92727 | 支持ユニット、支持体及びイオン化方法 | 2023年 7月 4日 | |
特開 2023-92871 | 試料支持体 | 2023年 7月 4日 | |
特開 2023-92872 | 試料支持体ユニット、及び試料のイオン化方法 | 2023年 7月 4日 | |
特開 2023-93185 | 半導体装置とその製造方法 | 2023年 7月 4日 | |
特開 2023-91916 | 固体撮像装置、形状測定装置および形状測定方法 | 2023年 7月 3日 |
213 件中 91-105 件を表示
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2023-531853 2023-101198 2023-100498 2023-100061 2023-100063 2023-99914 2023-99965 2023-96464 2023-96534 2023-95275 2023-92727 2023-92871 2023-92872 2023-93185 2023-91916
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5月16日(金) - 東京 千代田区
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