ホーム > 特許ランキング > コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ > 2016年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2016年 出願公開件数ランキング 第30位 1053件 (2015年:第32位 1163件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第32位 892件 (2015年:第26位 949件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6053726 | 食品を調理するための装置及びそのための空気ガイド部材 | 2016年12月27日 | |
特許 6053749 | 画像捕捉及び/又は画像関連パラメータの推薦装置 | 2016年12月27日 | |
特許 6053755 | ストレス測定デバイス及び方法 | 2016年12月27日 | |
特許 6053766 | 二次元撮像プローブを用いる三次元針位置特定 | 2016年12月27日 | |
特許 6053767 | 高ダイナミックレンジ・ビデオのためのグラフィック処理 | 2016年12月27日 | |
特許 6053772 | X線イメージング装置のスキャン運動を適合させる | 2016年12月27日 | |
特許 6053792 | 可変画像レジストレーションのワークフローにおけるユーザー入力と変形ベクトル場の修正との統合 | 2016年12月27日 | |
特許 6053793 | 生体の生体測定信号を生成するカメラ | 2016年12月27日 | |
特許 6053802 | 患者を監視し、患者のせん妄を検出する監視システム | 2016年12月27日 | |
特許 6053804 | 人の動作及び向きをモニタリングするためのデバイス及び方法、並びに、該デバイスにおける使用のためのプロセッサ及び処理方法 | 2016年12月27日 | |
特許 6054295 | 臨床状態タイムライン | 2016年12月27日 | |
特許 6054304 | 個人化されたヒーリングサウンドデータベース | 2016年12月27日 | |
特許 6054405 | 培養期間を用いた磁性粒子の検出 | 2016年12月27日 | |
特許 6054543 | 生体のバイタルサイン情報を得るデバイス及び方法 | 2016年12月27日 | |
特許 6054578 | 差動位相コントラストイメージング装置のX線管のためのアノード | 2016年12月27日 |
910 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6053726 6053749 6053755 6053766 6053767 6053772 6053792 6053793 6053802 6053804 6054295 6054304 6054405 6054543 6054578
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェの知財の動向チェックに便利です。
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
〒210-0024 神奈川県川崎市川崎区日進町3-4 unicoA 303 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都武蔵野市吉祥寺本町1丁目35-14-202 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 鑑定 コンサルティング
東京都港区新橋6-20-4 新橋パインビル5階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング