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エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第464位 78件
（
2018年：第391位 91件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第380位 70件
（2018年：第373位 74件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6506095 | 半導体メモリ装置 | 2019年 4月24日 | |
| 特許 6506133 | ボルテージレギュレータ | 2019年 4月24日 | |
| 特許 6503198 | 比較回路およびセンサ装置 | 2019年 4月17日 | |
| 特許 6503202 | 半導体装置 | 2019年 4月17日 | |
| 特許 6498452 | ＩＣ検査用ソケットおよびそれを用いた検査方法 | 2019年 4月10日 | |
| 特許 6498465 | 電源切替回路及び半導体装置 | 2019年 4月10日 | |
| 特許 6498503 | 電流検出回路 | 2019年 4月10日 | |
| 特許 6499031 | 電子機器 | 2019年 4月10日 | |
| 特許 6494465 | 半導体装置の製造方法 | 2019年 4月 3日 | |
| 特許 6489840 | ホール素子 | 2019年 3月27日 | |
| 特許 6483418 | ホールセンサおよびホールセンサの温度によるオフセットの補償方法 | 2019年 3月13日 | |
| 特許 6483434 | 光電変換装置 | 2019年 3月13日 | |
| 特許 6479515 | 受電装置、電子機器、及び給電システム | 2019年 3月 6日 | |
| 特許 6474655 | レチクル透過率測定方法、投影露光装置および投影露光方法 | 2019年 2月27日 | |
| 特許 6476061 | バッテリ装置及びバッテリ装置の製造方法 | 2019年 2月27日 |
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6506095 6506133 6503198 6503202 6498452 6498465 6498503 6499031 6494465 6489840 6483418 6483434 6479515 6474655 6476061
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