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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第23位 805件
(
2023年:第23位 874件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第42位 570件
(
2023年:第18位 1018件)
(ランキング更新日:2025年11月13日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7552717 | ランダムアクセス方法、リソース設定方法及び装置 | 2024年 9月18日 | |
| 特許 7552718 | システム情報受信方法及び装置 | 2024年 9月18日 | |
| 特許 7552735 | 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理プログラム | 2024年 9月18日 | |
| 特許 7552913 | 判定方法、判定プログラム、及び情報処理装置 | 2024年 9月18日 | |
| 特許 7550346 | グラフェンナノリボンの製造方法、及びグラフェンナノリボン前駆体 | 2024年 9月13日 | |
| 特許 7549216 | プリント基板設計プログラム、プリント基板設計方法及びプリント基板設計装置 | 2024年 9月11日 | |
| 特許 7549218 | 測定装置、測定方法および測定プログラム | 2024年 9月11日 | |
| 特許 7549222 | 秘密情報管理プログラム、秘密情報管理方法、データ登録装置、および秘密情報管理システム | 2024年 9月11日 | |
| 特許 7549240 | 情報処理プログラム、情報処理方法、および情報処理装置 | 2024年 9月11日 | |
| 特許 7549283 | 管理方法、情報処理装置および管理プログラム | 2024年 9月11日 | |
| 特許 7547751 | 表面欠陥識別方法及び装置 | 2024年 9月10日 | |
| 特許 7547799 | 構造探索方法、構造探索装置、構造探索用プログラム、及び相互作用ポテンシャル特定方法 | 2024年 9月10日 | |
| 特許 7547817 | 情報処理装置及び情報処理装置における制御方法 | 2024年 9月10日 | |
| 特許 7547825 | 半導体装置 | 2024年 9月10日 | |
| 特許 7547956 | 修正対象エッジ決定方法および修正対象エッジ決定プログラム | 2024年 9月10日 |
570 件中 151-165 件を表示
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7552717 7552718 7552735 7552913 7550346 7549216 7549218 7549222 7549240 7549283 7547751 7547799 7547817 7547825 7547956
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11月14日(金) -
11月14日(金) - 東京 品川区
11月14日(金) - 東京 千代田区
11月14日(金) - 東京 町田市
11月14日(金) - 大阪 大阪市
11月14日(金) -
11月14日(金) -
11月14日(金) -
11月14日(金) -
11月15日(土) - 神奈川 横浜市
11月13日(木) -
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11月18日(火) - 大阪 大阪市
11月18日(火) -
11月19日(水) -
11月19日(水) - 沖縄 那覇市
11月19日(水) -
11月19日(水) - 東京 港区
11月19日(水) -
11月19日(水) -
11月19日(水) -
11月20日(木) - 東京 港区
11月20日(木) - 東京 千代田区
11月20日(木) -
11月21日(金) - 東京 千代田区
11月21日(金) -
11月21日(金) -
11月21日(金) -
11月17日(月) -
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