株式会社東京精密
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第354位 97件
（
2014年：第727位 42件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第339位 81件
（2014年：第657位 48件）
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株式会社東京精密の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5725733 | 薄刃ブレード | 2015年 5月27日 | |
| 特許 5724047 | 電子デバイスのプロービング装置及びプロービング方法 | 2015年 5月27日 | |
| 特許 5723740 | ダイシング装置のブレード潤滑機構及びブレード潤滑方法 | 2015年 5月27日 | |
| 特許 5721877 | 薄刃ブレード | 2015年 5月20日 | |
| 特許 5718978 | ウェーハの検査方法 | 2015年 5月13日 | |
| 特許 5716427 | 真円度測定装置及びその心ずれ量補正方法 | 2015年 5月13日 | |
| 特許 5717914 | 三次元座標測定機 | 2015年 5月13日 | |
| 特許 5715034 | 研磨装置による研磨方法 | 2015年 5月 7日 | |
| 特許 5713759 | エアーマイクロメータ | 2015年 5月 7日 | |
| 特許 5711015 | 定寸装置 | 2015年 4月30日 | |
| 特許 5707889 | 半導体基板の切断方法及び半導体基板の切断装置 | 2015年 4月30日 | |
| 特許 5705092 | 真円度測定装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5704150 | 白色干渉装置及び白色干渉装置の位置及び変位測定方法 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5705188 | 真円度測定装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5706258 | ウェハの電気特性検査方法 | 2015年 4月22日 |
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5725733 5724047 5723740 5721877 5718978 5716427 5717914 5715034 5713759 5711015 5707889 5705092 5704150 5705188 5706258
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