株式会社東京精密
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第292位 135件
（
2019年：第270位 152件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第262位 107件
（
2019年：第314位 88件）
（ランキング更新日：2025年1月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社東京精密の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6803542 | プローバ及びプローブ検査方法 | 2020年12月23日 | |
| 特許 6804209 | 面取り装置及び面取り方法 | 2020年12月23日 | |
| 特許 6800421 | 測定装置及び測定方法 | 2020年12月16日 | |
| 特許 6800727 | 測定システム | 2020年12月16日 | |
| 特許 6801166 | プローバ及びプローブ検査方法 | 2020年12月16日 | |
| 特許 6796780 | 白色干渉装置及び白色干渉装置の計測方法 | 2020年12月 9日 | |
| 特許 6796782 | プローバ | 2020年12月 9日 | |
| 特許 6797999 | ウェーハの面取り方法 | 2020年12月 9日 | |
| 特許 6793767 | ウェハ研削装置 | 2020年12月 2日 | |
| 特許 6788182 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2020年11月25日 | |
| 特許 6788183 | 表面形状測定装置 | 2020年11月25日 | |
| 特許 6788207 | 変位検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機 | 2020年11月25日 | |
| 特許 6788208 | 三次元座標測定装置 | 2020年11月25日 | |
| 特許 6789645 | 面取り加工装置 | 2020年11月25日 | |
| 特許 6781926 | プローバ | 2020年11月11日 |
108 件中 1-15 件を表示
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6803542 6804209 6800421 6800727 6801166 6796780 6796782 6797999 6793767 6788182 6788183 6788207 6788208 6789645 6781926
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