ホーム > 特許ランキング > 日本電信電話株式会社 > 2012年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(日本電信電話株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第21位 1735件 (2011年:第20位 1890件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第21位 1572件 (2011年:第22位 1516件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-243096 | ゲストOS管理装置、ゲストOS管理方法及びゲストOS管理プログラム | 2012年12月10日 | |
特開 2012-244212 | 光ネットワークシステム及び光ネットワーク終端装置 | 2012年12月10日 | 共同出願 |
特開 2012-242528 | 対話評価装置、方法及びプログラム | 2012年12月10日 | |
特開 2012-243206 | 画像処理方法、画像処理装置および画像処理プログラム | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242468 | 擬似広帯域音声信号生成装置、擬似広帯域音声信号生成方法、及びそのプログラム | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242470 | 信号広帯域化装置、信号広帯域化方法、及びそのプログラム | 2012年12月10日 | |
特開 2012-243129 | 話題語獲得装置、方法、及びプログラム | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242605 | 高速カオス光信号生成光回路および高速カオス光信号生成方法 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242882 | データ格納領域管理装置、データ格納領域管理方法及びデータ格納領域管理プログラム | 2012年12月10日 | |
特開 2012-243177 | 歩行者転落監視システム | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242610 | 光偏向器および光偏向器の制御方法 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-243207 | 地名特性判定方法、地名特性判定装置、及びプログラム | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242604 | 高速カオス光信号生成光回路および高速カオス光信号生成方法 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242493 | 信号分解装置、方法、及びプログラム | 2012年12月10日 | |
特開 2012-238729 | 半導体装置およびその製造方法 | 2012年12月 6日 |
1735 件中 211-225 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2012-243096 2012-244212 2012-242528 2012-243206 2012-242468 2012-242470 2012-243129 2012-242605 2012-242882 2012-243177 2012-242610 2012-243207 2012-242604 2012-242493 2012-238729
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日本電信電話株式会社の知財の動向チェックに便利です。
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
〒166-0003 東京都杉並区高円寺南2-50-2 YSビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都外神田4-14-2 東京タイムズタワー2703号室 特許・実用新案 鑑定
〒141-0031 東京都品川区西五反田3-6-20 いちご西五反田ビル8F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング