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株式会社アドバンテスト
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第193位 230件
（
2011年：第199位 212件）
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（
2011年：第170位 211件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4885139 | ＴＣＰハンドリング装置 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4884977 | 電子部品ハンドリング装置用のインサート、プッシャ、テストヘッド用のソケットガイドおよび電子部品ハンドリング装置 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4885310 | 試験装置および試験方法 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4881388 | キャリブレーション装置、コンタクト判定方法及び半導体試験装置 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4881316 | 電子部品試験装置、及び、電子部品試験装置のコンタクトアームの最適押付条件設定方法 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4881051 | 導電性流体検出装置用のフィルタユニット及びそれを用いた導電性流体検出装置 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4874419 | スイッチ装置および試験装置 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4874210 | 試験装置 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4874391 | 試験装置 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4874096 | タイミング発生器を備えた半導体試験装置 | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4870840 | 試験装置、変換回路、および、試験方法 | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4866514 | 遅延回路、及び試験装置 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4866509 | タイミング発生器及び試験装置 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4866506 | 自己診断回路及びシステムＬＳＩテスタ | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4864163 | 試験装置 | 2012年 2月 1日 |
196 件中 166-180 件を表示
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4885139 4884977 4885310 4881388 4881316 4881051 4874419 4874210 4874391 4874096 4870840 4866514 4866509 4866506 4864163
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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