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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4763003 | ヒータ付プッシャ、電子部品ハンドリング装置および電子部品の温度制御方法 | 2011年 8月31日 | |
| 特許 4763053 | 閾電圧制御装置、試験装置、及び回路デバイス | 2011年 8月31日 | |
| 特許 4753267 | パレット | 2011年 8月24日 | |
| 特許 4757958 | 試験装置および試験方法 | 2011年 8月24日 | |
| 特許 4757954 | 試験装置および試験方法 | 2011年 8月24日 | |
| 特許 4757365 | 波形フォーマッタ・この波形フォーマッタを搭載した半導体デバイス試験装置 | 2011年 8月24日 | |
| 特許 4757961 | 試験装置および試験モジュール | 2011年 8月24日 | |
| 特許 4749605 | 半導体試験装置 | 2011年 8月17日 | |
| 特許 4750905 | 通信システム、試験装置および試験方法 | 2011年 8月17日 | |
| 特許 4749953 | ハイパスフィルタの製造方法 | 2011年 8月17日 | |
| 特許 4749812 | 試験装置 | 2011年 8月17日 | |
| 特許 4749754 | 試験装置及び試験方法 | 2011年 8月17日 | |
| 特許 4731849 | 半導体集積回路の製造方法 | 2011年 7月27日 | 共同出願 |
| 特許 4732007 | 波形発生器、波形整形器、及び試験装置 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4731720 | 接点寿命診断方法 | 2011年 7月27日 |
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4763003 4763053 4753267 4757958 4757954 4757365 4757961 4749605 4750905 4749953 4749812 4749754 4731849 4732007 4731720
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