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株式会社アドバンテスト

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  2014年 出願公開件数ランキング    第557位 58件 下降2013年:第338位 127件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第379位 97件 下降2013年:第163位 256件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5433322 コネクタ、ケーブルアッセンブリ及び半導体試験装置 2014年 3月 5日 共同出願
特許 5426637 半導体装置の製造方法及び半導体製造装置 2014年 2月26日
特許 5426497 パターン測定装置及びパターン測定方法 2014年 2月26日
特許 5426470 コネクタ及びそれを有する半導体試験装置 2014年 2月26日 共同出願
特許 5411872 デバイス、試験装置及び試験方法 2014年 2月12日
特許 5416279 試験装置および試験方法 2014年 2月12日
特許 5416166 スイッチ装置および試験装置 2014年 2月12日
特許 5411925 試験装置および試験方法 2014年 2月12日
特許 5411866 パターン計測装置及びパターン計測方法 2014年 2月12日
特許 5411464 電子線描画装置 2014年 2月12日
特許 5411843 駆動装置、スイッチ装置、および試験装置 2014年 2月12日
特許 5405492 スイッチ装置、および試験装置 2014年 2月 5日
特許 5405575 半導体ウェハ試験装置及び半導体ウェハの試験方法 2014年 2月 5日
特許 5394436 スイッチ装置、伝送路切り替え装置、製造方法、および試験装置 2014年 1月22日
特許 5394451 アクチュエータの製造方法、スイッチ装置、伝送路切替装置、および試験装置 2014年 1月22日

97 件中 76-90 件を表示

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5433322 5426637 5426497 5426470 5411872 5416279 5416166 5411925 5411866 5411464 5411843 5405492 5405575 5394436 5394451

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