特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ホーム > 特許ランキング > 三星電子株式会社 > 2011年 > 特許一覧

三星電子株式会社

※ ログインすれば出願人(三星電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

  2011年 出願公開件数ランキング    第57位 657件 上昇2010年:第73位 608件)

  2011年 特許取得件数ランキング    第31位 872件 変わらず2010年:第31位 731件)

(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

2012年  2013年  2014年  2015年  2016年  2017年  2018年  2019年  2020年  2021年  2022年  2023年  2024年  2025年 

公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 4606492 リアルタイム核酸増幅データから初期核酸濃度を定量化する方法 2011年 1月 5日
特許 4607073 マイクロ波共鳴プラズマ発生装置、該装置を備えるプラズマ処理システム 2011年 1月 5日
特許 4607439 フラックスゲートを有する感知装置 2011年 1月 5日
特許 4607041 半導体メモリ装置の内部クロック生成方法及びこれを利用した半導体メモリ装置 2011年 1月 5日
特許 4607466 電源分析ハッキングを禁止する保護装置を有するスマートカードとその保護方法 2011年 1月 5日
特許 4606955 映像認識システム、映像認識方法、映像補正システムおよび映像補正方法 2011年 1月 5日
特許 4607056 負荷駆動装置 2011年 1月 5日
特許 4607086 コンテンツを動的に表現する装置及び方法 2011年 1月 5日
特許 4608177 MRAMアレイ内のセルのための一様な磁気環境 2011年 1月 5日
特許 4607707 ギガヘルツ周波数に効率的な遅延同期ループを有する多重位相クロック発生器を備える光学駆動回路 2011年 1月 5日
特許 4607444 半導体装置、データ検索回路、メモリセルアレイ判読方法、およびデータ検索方法 2011年 1月 5日
特許 4606849 デカップリングコンデンサを有する半導体チップパッケージ及びその製造方法 2011年 1月 5日
特許 4605998 半導体ウェハ洗浄システム及びその半導体ウェハ洗浄方法 2011年 1月 5日
特許 4607604 4:2CSAセル及び4:2キャリ保存加算方法 2011年 1月 5日
特許 4607227 適応ループ帯域を有する位相同期ループ 2011年 1月 5日

872 件中 856-870 件を表示

をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

4606492 4607073 4607439 4607041 4607466 4606955 4607056 4607086 4608177 4607707 4607444 4606849 4605998 4607604 4607227

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。三星電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

  • このサイトをYahoo!ブックマークに登録
  • はてなブックマークに追加

特許ランキング

2025年 特許出願件数2025年 特許取得件数
2024年 特許出願件数2024年 特許取得件数
2023年 特許出願件数2023年 特許取得件数
2022年 特許出願件数2022年 特許取得件数
2021年 特許出願件数2021年 特許取得件数
2020年 特許出願件数2020年 特許取得件数
2019年 特許出願件数2019年 特許取得件数
2018年 特許出願件数2018年 特許取得件数
2017年 特許出願件数2017年 特許取得件数
2016年 特許出願件数2016年 特許取得件数
2015年 特許出願件数2015年 特許取得件数
2014年 特許出願件数2014年 特許取得件数
2013年 特許出願件数2013年 特許取得件数
2012年 特許出願件数2012年 特許取得件数
出願人を検索

今週の知財セミナー (2月24日~3月2日)

2月26日(水) - 東京 港区

実務に則した欧州特許の取得方法

来週の知財セミナー (3月3日~3月9日)

3月4日(火) -

特許とAI

3月6日(木) - 東京 港区

研究開発と特許

3月7日(金) - 東京 港区

知りたかったインド特許の実務

特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介

弁理士法人 湘洋特許事務所

〒220-0004 横浜市西区北幸1-5-10 JPR横浜ビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング 

山田特許事務所

愛知県豊橋市西幸町字浜池333-9 豊橋サイエンスコア109 特許・実用新案 商標 

あみ知的財産事務所

大阪市北区豊崎3-20-9 三栄ビル7階 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング