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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第354位 119件
(2012年:第380位 109件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第236位 170件
(2012年:第266位 139件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-200248 | デジタル式インジケータおよび多点測定装置 | 2013年10月 3日 | |
特開 2013-195114 | 白色光干渉測定装置 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-195241 | 表面性状測定機および表面性状測定方法 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-195216 | 表面性状測定機 | 2013年 9月30日 | |
特開 2013-185990 | 測定器 | 2013年 9月19日 | |
特開 2013-185995 | 表面性状測定機、その制御装置およびその調整方法 | 2013年 9月19日 | |
特開 2013-174554 | デジタル式変位測定器 | 2013年 9月 5日 | |
特開 2013-174593 | 測定の信頼性評価機能を有するクロマティック・レンジ・センサ | 2013年 9月 5日 | |
特開 2013-174594 | クロマティック・レンジ・センサで測定されたスペクトルプロファイルから異常スペクトルプロファイルを識別する方法 | 2013年 9月 5日 | |
特開 2013-174579 | 精密二次元移動装置、精密三次元移動装置、および三次元測定機 | 2013年 9月 5日 | |
特開 2013-171425 | 画像処理装置 | 2013年 9月 2日 | |
特開 2013-170852 | 光電式エンコーダ | 2013年 9月 2日 | |
特開 2013-167536 | 光電式エンコーダ | 2013年 8月29日 | |
特開 2013-163350 | 測定器用プリンタ、及び測定システム | 2013年 8月22日 | |
特開 2013-160626 | 高さ位置測定装置 | 2013年 8月19日 |
119 件中 31-45 件を表示
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2013-200248 2013-195114 2013-195241 2013-195216 2013-185990 2013-185995 2013-174554 2013-174593 2013-174594 2013-174579 2013-171425 2013-170852 2013-167536 2013-163350 2013-160626
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2月26日(水) -
2月26日(水) -
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2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
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