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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第380位 109件
(2011年:第276位 147件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第266位 139件
(2011年:第270位 130件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-108074 | 電磁誘導式エンコーダ | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-108067 | 厚み測定方法 | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-93345 | 座標測定用ヘッドユニット及び座標測定機 | 2012年 5月17日 | |
特開 2012-93166 | 干渉対物レンズユニット及び当該干渉対物レンズユニットを備えた光干渉測定装置 | 2012年 5月17日 | |
特開 2012-93159 | 光電式エンコーダ | 2012年 5月17日 | |
特開 2012-93121 | 硬さ試験方法及びプログラム | 2012年 5月17日 | |
特開 2012-93105 | レーザ光の光軸方向の測定方法、長さ測定システム、および位置決め精度の検査方法 | 2012年 5月17日 | |
特開 2012-88149 | 表面性状測定機の直角度誤差算出方法および校正用治具 | 2012年 5月10日 | |
特開 2012-88162 | 画像測定装置及びその駆動制御方法 | 2012年 5月10日 | |
特開 2012-88261 | 画像測定装置 | 2012年 5月10日 | |
特開 2012-88274 | 変位測定装置 | 2012年 5月10日 | |
特開 2012-88180 | 干渉対物レンズ装置及び光干渉測定装置 | 2012年 5月10日 | |
特開 2012-83153 | エンコーダ | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-83192 | 三次元測定機の校正方法および校正治具 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-83228 | 原点位置検出回路 | 2012年 4月26日 |
109 件中 46-60 件を表示
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2012-108074 2012-108067 2012-93345 2012-93166 2012-93159 2012-93121 2012-93105 2012-88149 2012-88162 2012-88261 2012-88274 2012-88180 2012-83153 2012-83192 2012-83228
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
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2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
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2月19日(水) -
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2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月25日(火) -
2月25日(火) -
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2月26日(水) -
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