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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第276位 147件
(2010年:第319位 142件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第270位 130件
(2010年:第330位 94件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-102719 | 画像測定機 | 2011年 5月26日 | |
特開 2011-99861 | 位置感知光検出器を使用する線形変位センサ | 2011年 5月19日 | |
特開 2011-99787 | 形状測定装置及び形状測定方法 | 2011年 5月19日 | |
特開 2011-99768 | 重心測定システムおよび重心測定方法 | 2011年 5月19日 | |
特開 2011-100812 | レーザ光源装置、及びレーザ光源の調整システム | 2011年 5月19日 | |
特開 2011-95263 | 正確な寸法検査用の自動焦点ビデオツールおよび方法 | 2011年 5月12日 | |
特開 2011-89988 | 物体表面の高さマップを求める方法及びその装置 | 2011年 5月 6日 | |
特開 2011-89897 | 形状測定装置及び形状データの位置合わせ方法 | 2011年 5月 6日 | |
特開 2011-89830 | 測定力制御装置 | 2011年 5月 6日 | |
特開 2011-85404 | 検出器、及び測定機 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85403 | オフセット量校正方法および表面性状測定機 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85402 | 表面性状測定機 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85401 | 表面性状測定機および表面性状測定方法 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85400 | 表面性状測定機 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85399 | オフセット量校正方法および表面性状測定機 | 2011年 4月28日 |
147 件中 91-105 件を表示
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2011-102719 2011-99861 2011-99787 2011-99768 2011-100812 2011-95263 2011-89988 2011-89897 2011-89830 2011-85404 2011-85403 2011-85402 2011-85401 2011-85400 2011-85399
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
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2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
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2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
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2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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