株式会社ミツトヨ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第380位 109件
（
2011年：第276位 147件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第266位 139件
（
2011年：第270位 130件）
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株式会社ミツトヨの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5042781 | 周波数安定化レーザ装置及びレーザ周波数安定化方法 | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5032888 | 表面性状測定装置および表面性状測定方法 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5032235 | 共振センサの測定位置検出方法及び装置 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5032031 | 接触プローブおよび形状測定装置 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5026756 | ワーク測定方法及びその装置 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5027611 | 微細加工方法および微細加工装置 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5022930 | 接触式振動計およびこれを備えた表面性状測定装置 | 2012年 9月12日 | |
| 特許 5022724 | 絶対位置測定装置 | 2012年 9月12日 | |
| 特許 5017018 | 顕微鏡 | 2012年 9月 5日 | |
| 特許 5017081 | 押込み試験機及び押込み試験方法 | 2012年 9月 5日 | |
| 特許 5021244 | 変位検出エンコーダ | 2012年 9月 5日 | |
| 特許 5016202 | 照明装置および画像処理装置 | 2012年 9月 5日 | |
| 特許 5016232 | スライダ装置 | 2012年 9月 5日 | |
| 特許 5016242 | 表面性状測定装置、表面性状測定方法及び表面性状測定プログラム | 2012年 9月 5日 | |
| 特許 5010964 | 角度測定方法およびその装置 | 2012年 8月29日 |
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5042781 5032888 5032235 5032031 5026756 5027611 5022930 5022724 5017018 5017081 5021244 5016202 5016232 5016242 5010964
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