※ ログインすれば出願人(株式会社ミツトヨ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第380位 109件
(2011年:第276位 147件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第266位 139件
(2011年:第270位 130件)
(ランキング更新日:2025年5月2日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4913857 | 光学式変位測定装置 | 2012年 4月11日 | |
特許 4913843 | 誘導型変位検出装置及びマイクロメータ | 2012年 4月11日 | |
特許 4913609 | 硬さ試験機 | 2012年 4月11日 | |
特許 4913495 | 誘導型変位検出装置 | 2012年 4月11日 | |
特許 4913345 | 反射型光電式エンコーダ用スケール、スケールの製造方法及び光電式エンコーダ | 2012年 4月11日 | |
特許 4912765 | デジタル式変位測定器 | 2012年 4月11日 | |
特許 4909562 | 表面性状測定装置 | 2012年 4月 4日 | |
特許 4909548 | 表面形状測定装置 | 2012年 4月 4日 | |
特許 4909139 | 硬さ試験機 | 2012年 4月 4日 | |
特許 4902371 | 硬さ試験機 | 2012年 3月21日 | |
特許 4897572 | 斜入射干渉計 | 2012年 3月14日 | |
特許 4897449 | レーザ周波数安定化装置、レーザ周波数安定化方法、及びレーザ周波数安定化プログラム | 2012年 3月14日 | |
特許 4891629 | 表面性状測定機、形状解析プログラムおよび記録媒体 | 2012年 3月 7日 | |
特許 4889928 | 基準座標算出方法、基準座標算出プログラム、その記録媒体、定盤および形状測定装置 | 2012年 3月 7日 | |
特許 4885670 | アブソリュート型リニアエンコーダ | 2012年 2月29日 |
139 件中 106-120 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4913857 4913843 4913609 4913495 4913345 4912765 4909562 4909548 4909139 4902371 4897572 4897449 4891629 4889928 4885670
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ミツトヨの知財の動向チェックに便利です。
5月12日(月) -
5月13日(火) - 東京 港区
5月14日(水) - 東京 港区
5月14日(水) -
5月15日(木) - 東京 港区
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月12日(月) -
横浜市中区本町1-7 東ビル4階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒101-0032 東京都千代田区岩本町3-2-10 SN岩本町ビル9階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都外神田4-14-2 東京タイムズタワー2703号室 特許・実用新案 鑑定