株式会社堀場製作所
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第545位 70件
（
2012年：第528位 66件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第591位 57件
（2012年：第557位 60件）
（ランキング更新日：2024年11月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社堀場製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-195316 | 車両固定装置及び車両性能試験装置 | 2013年 9月30日 | 共同出願 |
| 特開 2013-191576 | 電子顕微鏡装置 | 2013年 9月26日 | |
| 特開 2013-167589 | 粒径分布測定装置 | 2013年 8月29日 | |
| 特開 2013-167588 | 粒子分析装置 | 2013年 8月29日 | |
| 特開 2013-167492 | 排ガスサンプリング装置 | 2013年 8月29日 | |
| 特開 2013-160594 | 元素分析装置 | 2013年 8月19日 | |
| 特開 2013-160614 | Ｘ線検出装置 | 2013年 8月19日 | |
| 特開 2013-145887 | 材料ガス濃度制御装置 | 2013年 7月25日 | 共同出願 |
| 特開 2013-140023 | 放射線測定装置及び放射線測定システム | 2013年 7月18日 | |
| 特開 2013-137215 | 液膜型イオン選択性電極 | 2013年 7月11日 | |
| 特開 2013-137216 | 校正液 | 2013年 7月11日 | |
| 特開 2013-137219 | 排ガス分析装置及びドレンセパレータ | 2013年 7月11日 | |
| 特開 2013-137218 | イオン分析装置 | 2013年 7月11日 | |
| 特開 2013-134232 | ガス分析装置 | 2013年 7月 8日 | |
| 特開 2013-134229 | ガス分析装置 | 2013年 7月 8日 |
70 件中 31-45 件を表示
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2013-195316 2013-191576 2013-167589 2013-167588 2013-167492 2013-160594 2013-160614 2013-145887 2013-140023 2013-137215 2013-137216 2013-137219 2013-137218 2013-134232 2013-134229
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