特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ラピスセミコンダクタ株式会社

※ ログインすれば出願人(ラピスセミコンダクタ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2013年出願公開件数ランキング　　　第328位　132件（2012年：第270位　155件）

　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第233位　174件（2012年：第225位　172件）

（ランキング更新日：2025年2月12日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

ラピスセミコンダクタ株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2013-232552	半導体装置及び計測機器	2013年11月14日
特開 2013-232810	半導体装置の製造方法	2013年11月14日
特開 2013-232876	半導体装置及び計測機器	2013年11月14日
特開 2013-232622	半導体装置及び計測機器	2013年11月14日
特開 2013-232278	不揮発性半導体記憶装置	2013年11月14日
特開 2013-232544	樹脂封止方法および半導体装置の製造方法	2013年11月14日
特開 2013-232545	半導体装置、計測機器、及び補正方法	2013年11月14日
特開 2013-228373	電池監視システム及び半導体装置	2013年11月 7日
特開 2013-229467	保護テープ貼付け方法、保護テープ貼付け装置、及び半導体装置の製造方法	2013年11月 7日
特開 2013-229075	半導体記憶装置	2013年11月 7日
特開 2013-225339	半導体メモリの基準電位発生回路及び半導体メモリ	2013年10月31日
特開 2013-225568	半導体回路、及び半導体装置	2013年10月31日
特開 2013-222474	不揮発性メモリ回路、半導体装置、及び読出し方法	2013年10月28日
特開 2013-222365	半導体集積回路の試験装置、半導体集積回路の試験方法、半導体集積回路の試験プログラム	2013年10月28日
特開 2013-222473	半導体記憶装置	2013年10月28日

132 件中 16-30 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2013-232552 2013-232810 2013-232876 2013-232622 2013-232278 2013-232544 2013-232545 2013-228373 2013-229467 2013-229075 2013-225339 2013-225568 2013-222474 2013-222365 2013-222473

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ラピスセミコンダクタ株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数