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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第315位 126件 (2010年:第351位 125件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第486位 66件 (2010年:第359位 83件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-257194 | OSNR評価装置及びOSNR評価方法 | 2011年12月22日 | |
特開 2011-259076 | シーケンス試験装置及びシーケンス試験方法 | 2011年12月22日 | |
特開 2011-257480 | 光変調器および光変調器モジュール | 2011年12月22日 | |
特開 2011-253923 | ダイシング装置およびダイシング方法 | 2011年12月15日 | |
特開 2011-250104 | シーケンス試験装置及びシーケンス試験方法 | 2011年12月 8日 | |
特開 2011-247800 | 光コヒーレント検波器評価装置及び光コヒーレント検波器評価方法 | 2011年12月 8日 | |
特開 2011-247799 | 光スペクトラムアナライザ及び光スペクトラム解析方法 | 2011年12月 8日 | |
特開 2011-237340 | APD測定装置 | 2011年11月24日 | |
特開 2011-234026 | 波形発生器及びそれを備えた信号発生装置並びに波形発生方法及び信号発生方法 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-232216 | データ信号品質評価装置 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-232215 | データ信号品質評価装置 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-232217 | データ信号品質評価装置 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-232583 | 光変調器モジュール | 2011年11月17日 | |
特開 2011-222880 | 光素子パッケージおよび製造方法 | 2011年11月 4日 | |
特開 2011-211501 | 基地局評価装置およびその同期処理方法 | 2011年10月20日 |
126 件中 1-15 件を表示
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2011-257194 2011-259076 2011-257480 2011-253923 2011-250104 2011-247800 2011-247799 2011-237340 2011-234026 2011-232216 2011-232215 2011-232217 2011-232583 2011-222880 2011-211501
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11月25日(月) -
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11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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